使用PXI进行微波继电器测量
测试问题
目标是将用于测量Radiall微波开关性能的20架测试台的测试能力翻倍。在交付给用户之前，需要在环境试验箱内，在不同的环境条件下，对每个微波开关的接触特性进行综合测试。要求升级后的测试台能提供更好的测试能力、更快的测试速度和更高的灵活性。这些开关需要长时间地放置在环境试验箱内一边进行热循环一边进行操作。每个测试台都要求能够在对各种不同的微波开关进行测试的同时对它们进行管理。
参与公司
Radiall，是一家来自法国的微波继电器的制造商同时也是对供应商提出的各种解决方案进行全方位评估工作的系统终端用户。
Mesulog，是一家系统集成商，与 Pickering共同合作提出了一个完整的PXI解决方案，并对该方案进行评估并与其它竞争方案进行比较。
测试方法
所提出的解决方案是每个测试台都基于PXI平台并且都带有一个用于识别被测部件的条形码扫描仪。用一个PXI数字万用表（DMM）来对接触电阻进行四线制测量。用Pickering的多路复用器连接数字万用表（DMM）来测试被测设备（DUT）的接触特性。而使用的软件环境是基于NI的LabVIEW®和Test Stand®。
这个方案需要面临的一个难题在于要选择一个合适的开关系统使得数字万用表（DMM）能够在环境试验箱内对微波设备进行 四线制电阻测量。并且要求数字万用表（DMM）在进行四线电阻测量的时候能够不受连接线和开关上的电阻影响。数字万用表（DMM）需要处理多个设备并且每个设备都具有多个触点，因此开关系统必须要有很好的灵活性。而且由于测试台需要持续使用很多年，因此就要求这个开关系统要具有很长的使用寿命。解决开关难题
从要满足速度、可靠性以及精度这些关键条件的要求来看，并没有哪一种开关系统是明显更合适的。Mesulog评估了许多备选方案，所有这些方案都具有一定的局限。最后，Pickering和Mesulog共同协商决定采用一个新方案，用一个64x4基于场效应管（FET）的多路复用器来解决问题。使用场效应管（FET）可以使得系统具有几乎无限长的使用寿命，而四端点测量可以抵偿场效应管（FET）开关上固有的通道电阻。
正面的评价和成功的合作
集成商通过利用市面上软硬件层面的标准产品给用户提供了具有良好的灵活性和用户友好性的微波继电器测试仪。采用了场效应管（FET）开关的PXI结构可以在提供无限长使用寿命的同时具有其他继电器技术无法比肩的快速执行速度。.
出于对产品的可用性、系统速度、封装尺寸小和成本效益等方面因素的考虑，PXI无疑是很合理的选择。
最终决定将基于这个新系统结构建造至少20台测试仪。
此外，这种相同的结构还将在Radiall空间部门重建另一种工作台时被当做核心部分来使用。
Pickering与Mesulog和Radiall的紧密合作确保了PXI在测试平台上的成功实施。PXI的使用使得集成方便快捷，并为终端客户带来了良好的体验。
